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X 射線探傷
X射線能在無損檢驗技術(shù)中得到廣泛應(yīng)用的主要原因是：它能穿透可見光不能穿透的物質(zhì),；它在物質(zhì)中具有衰減作用和衰減規(guī)律,；它能對某些物質(zhì)發(fā)生光化學(xué)作用、電離作用和熒光現(xiàn)象。而且這些作用都將隨著X射線強度的增加而增加,。
X射線探傷是利用材料厚度不同對X射線吸收程度的差異,，通過用X射線透視攝片法和工業(yè)電視實時成像,，從軟片和成像上顯出材料,、零部件及焊縫的內(nèi)部缺陷。如裂紋,、縮孔,、氣孔,、夾渣、未溶合,、未焊透等,，確定位置和大小。根據(jù)觀察其缺陷的性質(zhì),、大小和部位來評定材料或制品的質(zhì)量,，從而防止由于材料內(nèi)部缺陷、加工不良而引起的重大事故,。
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X射線探傷除照相法外,，還有X射線熒光屏觀察法、電視觀察法,。
X射線照相法
這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏,，當(dāng)膠片被X射線照射而感光后，復(fù)經(jīng)顯影,，即可顯現(xiàn)出不同的感光程度,。若射線的強度越大，則膠片的感光越多,，顯影后的黑度就越大,。當(dāng)某處與周圍對比的黑度較大時，則可確認(rèn)存在缺陷,。照相法的靈敏度高,、適應(yīng)性強，同時膠片可長期保存待查,。但程序較多,、費時,、成本較高,。
X射線熒光屏觀察法
X射線透過被檢查物體后，把不同強度的射線,，再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上,，激發(fā)出不同強度的熒光而得到物體的影像。如果我們能直接從熒光屏上觀察缺陷影像,，就稱為X射線熒光屏觀察法,。
熒光屏觀察法與照相法的不同點：
熒光屏上所看到的缺陷影像是發(fā)亮的，而在底片上見到的缺陷影像是暗黑的,；
前者不用暗室處理,，因而暗室處理影響其影像質(zhì)量的因素不存在，但其它因素與照相法同,；
熒光屏上的熒光物質(zhì)與照相法中增感屏上的熒光物質(zhì)不同,，它要求這種物質(zhì)所發(fā)熒光對人的眼睛最靈敏,。
熒光屏觀察法能對工件連續(xù)檢查，并能迅速得出結(jié)果,。因此能節(jié)省大量的軟片與工時,，成本低。但是,，熒光屏觀察法的靈敏度要低一些,。由于它不能像照相法那樣把射線的能量積累起來，它只能檢查較薄的結(jié)構(gòu)簡單的工件,。
熒光屏觀察法所用的設(shè)備是X射線發(fā)生器及其控制設(shè)備,；熒光觀察屏；觀察和記錄用的輔助沒備,；防護及傳送設(shè)備等,。
X射線電視觀察法
X射線照相法既費工時，又不經(jīng)濟,，不適宜于批量生產(chǎn)的工廠,。然而，X射線熒光屏觀察法由于成象的光亮度差,、靈敏度低,，并且大多在熒光透視箱內(nèi)進行，故也未廣泛采用,。隨著光電微光技術(shù)的發(fā)展,，微光象增強器和攝象管得到重視和廣泛應(yīng)用。
X射線電視觀察法的優(yōu)點是可以直接觀察副物體內(nèi)部在靜態(tài)和動態(tài)下的情況,，并能多次觀察,；不需照相法那一套處理系統(tǒng)；可以流水作業(yè),；快速,。
此法的不足之處是靈敏度比照相法低；圖象增強管接受輻射能量只達160kV左右,，因而受到一定限制,；由于泄露輻射的影響，檢測幾何形狀較為復(fù)雜的零件較為困難,。